开尔文连接法

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开尔文连接法

‌开尔文连接法(Kelvin Connection)是一种用于高精度测量低电阻的布线技术,通过分离电流传输路径和电压检测路径,消除引线电阻和接触电阻的影响,实现毫欧级甚至微欧级电阻的精确测量。

焊盘对测流电阻的影响#

焊盘电压降.png
焊盘电压降.png
我们知道贴片电阻有两个矩形焊盘,我们取其中一个焊盘,由外圈到内圈,取阶梯距离的触点,作为电极的测试点,施加1A电流,得出不同部位的电压降,由图片可以看出,焊盘中心到最外圈存在一个0.12mΩ电阻。 图中铜箔电阻为1.7uΩcm,所以存在压降,只是一般电路设计我们不考虑铜箔电阻。 但是电流采样电阻一般是mΩ级别,不得不考虑这部分误差。 如果采样电阻是1mΩ,那0.12mΩ就相当于12%的误差!!!!!

电流检测技术#

首先了解采样电阻(也称为电流检测电阻),是一种专门用于将电流信号转换为可测量电压信号的低阻值精密电阻。它是电流测量电路中的核心元件,串联在待测电流路径中,通过测量电阻两端的压降(根据欧姆定律 U=I×R),间接计算出流经电路的电流值,采样电阻的阻值一般不会超过1Ω,典型范围在0.1mΩ ~ 100mΩ(毫欧级),精度比较高,一般在1%以内。 ‌在测量电流时,电流检测技术分为高侧(边)检测和低侧(边)检测。 将测量采样电阻放置在电源与负载之间的检测方法称为高侧检测,将测量采样电阻放置在负载与接地端之间的检测方法称为低侧检测。 这两种用于检测负载中电流的方法,如图所示。

高/低边电流检测采样
高/低边电流检测采样

开尔文连接法#

‌在普通的两线测量法中,测量电流和测量电压共用同一对引线,引线本身的电阻会叠加在被测器件的电阻上,导致测量值偏大。 通过开尔文走线(四线检测法)是提高测量精度的关键,主干道用粗线或宽铜箔,大部分电流都是从主干道流过,电流测试支路用细线,测量通过采样电阻两端的压降,计算出流过的电流,显著提高采样电阻的采样精度。

开尔文连接法.png
开尔文连接法.png

在电路板设计中,开尔文走线需遵循以下规则:

  • 采样电阻焊盘分离电流焊盘区和电压检测焊盘区,电流路径使用宽铜箔,电压测量线用细线连接;
  • 两条电压线应尽可能长度相等、线宽相同、保持对称布线,并远离噪声源,最好使用差分对布线规则,这有助于抑制共模噪声;
  • 采样电阻到电流检测芯片的布线长度应尽可能近,以减少测量误差;
  • 电压线从电阻焊盘中心直接引出,避开电流路径分支点,远离功率元件、大电流走线等热源,温度变化会影响测量精度;
    开尔文走线接法
    开尔文走线接法
    开尔文走线接法(双通道)
    开尔文走线接法(双通道)

注意点#

有时候选用的电阻功率不够,电流又很大,可能会用两个相同电阻并联成一个更小阻值电阻。这时候,需要注意下PCB layout的走线/铺铜:

两电阻并联.png
两电阻并联.png
很明显,通路A更加优,测量点居中取,通路B右侧承当更大的电流和发热,误差会更大。

常被忽略的~贴片水平好不好,也会影响误差:

贴片水平.png
贴片水平.png

温度系数#

电阻温度系数:200ppm/℃(常见) 铜箔温度系数: 4000ppm/℃ (很高哦~) 电阻温度系数 T.C.R.单位ppm/℃,其中ppm是百万分之一(10^-6)

数学表达式: TCR = (ΔR / R₀) / ΔT 其中: ΔR:电阻变化量 R₀:初始电阻值 ΔT:温度变化量

举个例子: 假设你有一个 100Ω 的电阻,TCR 为 +200ppm/℃。 当温度从 25℃ 升到 75℃(ΔT=50℃): ΔR = 100Ω × 200ppm/℃ × 50℃ = 1Ω 最终电阻值 ≈ 101Ω

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开尔文连接法
https://blog.orbitvo.com/posts/electronic/eda/kelvin/
作者
Lyz
发布于
2026-08-24
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CC BY-NC-SA 4.0
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